Morphologie der Materialfläche

Raster-Elektronen-Mikroskop
(Leitz ISI 60)

Für Aufnahmen bis > 100.000-facher Vergrößerung

Lichtmikroskope
(Zeiss Photomikroskop, Zeiss Axioskop, Leitz Orthoplan)

Interferenz-Kontrast nach Normarski Partikelbetrachtung auf Oberflächen (Dunkelfeld) + Fluoreszenz

Clear & Clean GmbH
Tel.+49-451-389500
Fax +49-451-38171
info@clearclean.de

Raster-Elektronen-
Mikroskop

Mechanische Kennwerte

Reißkraftanalysator (Adamel DY 30)

Einreiß-/Durchreißkraft, Längendehnung, Materialermüdung, chemische Beständigkeit

Rautiefenmeßgerät (Mitutoyo Surftest)

Oberflächenrauigkeit Ra, Ry, Rz

Dickenmeßgerät (Mitutoyo)

Materialdicke von Papieren und textilen Werkstoffen

Labor- und Microwaage ab 1,0 µg (Kern, Satorius)

Flächenmassen; gravimetrische Auswertung von Absorbations-Prüfungen

Rotationswischsimulator nach Labuda (Clear & Clean)

Partikelabrieb von textilen Werkstoffen (nass und trocken)

Laser-Fluoreszenz-Meßplatz 1 (Kienzle)
Laser-Fluoreszenz-Meßplatz 2 (Kienzle)
Kontavisor, MiniKont

schnelle quantitative Bestimmung dünner Mineralölschichten

Partikelabrieb

Microwaage

Rautiefenmeßgerät

elektronischer Bildanalysen-Meßplatz (Leitz - Image Pro)

Part-Lift Kollektor für Partikelanalyse auf Oberflächen nach Labuda

Interferometrischer
Laserpartikelanalysator (TSI)

Zählung flüssigkeitsgetragener
Partikel > 0,19 µm

Laser-Partikelzähler (Climet / CAS)

Zählung Luftgetragener
Partikel > 0,5 µm

Partikelbestand, Partikelfreisetzung

Chemische Analytik

Röntgen-Mikro-Analyse EDX (Princeton)

Kombiniert mit Raster-Elektronen- Mikroskop

Polarographische Voltammetrie (GAT)

Stripping Voltammetrie zur Schwermetall-Analyse im ppt-Bereich

Tensiometer (Lauda)

Oberflächen-Spannung von Flüssigkeiten, Tensidfreisetzung

Tensiometer

elektrische Feldstärke

Hochohm-Meßbrücke (Thieming)

Oberflächenwiderstand von Papier und Textilien bis 1015 Ohm

Coulombmeter (Elab CM 04)

Messung elektrischer Ladungen im nC-Bereich

Digital-Feldmeter (JCI)

Messung triboelektrischer Felder von Papieren und Textilien bis 20 kV

Fallschlitten-Meßplatz (Clear & Clean)

zur Erzeugung materialspezifischer triboelektrischer Felder

Klimakammer (Rubarth)

Einstellung definierter Prüfklimata zwischen 20 und 95 % relH

Fallschlitten

Spezial-Meßtechnik

Linear-Wischsimulatoren
(Betex / Clear & Clean)

Messung der Reinigungs-Effizienz von textilen und porösen Werkstoffen

Präzisions-Ellipsometer-Meßplatz,
Mapping-Version (DRE - Dr. Riß)

Schichtdickemessung im Picometerbereich, Messung der Reinigungseffizienz im molekularen Dickenbereich

Tropfenkonturanalyse / Randwinkelmessung (Lauda)

Nachweis von Verunreinigungs- Übertragungen auf Oberflächen

Ellipsometer

Wischsimulator

Tropfenkonturanalyse

AFM Atomic Force Microscope

Darstellung von Nanostrukturen

Zählung von Partikeln ab 1 nm in Flüssigkeiten

Laser-Nano-Partikelzähler
(Vasco II, Cordouan)

FTIR-Spektrometer Agilent

chemische Molekülspektrometrie

AFM

Quarz-Analysewaage

für Gewichtsmessungen im ng-Bereich

Dünnschicht-Chromatographie

zur qualit. + quant. chem. Analyse

UV-VIS-Spektrometer, Amersham

FTIR-Spektrometer

FTIR
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